掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是一種高科技的表面分析儀器，主要用於納米科技領域。
掃描探針顯微鏡包括多種不同的技術，其中最著名的兩種是掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscopy，STM）和原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）。這些技術利用尖銳的探針來逐點掃描樣品表面，從而在原子級或分子級的尺度上獲取樣品的形貌和物理性質信息。
掃描探針顯微鏡的應用範圍廣泛，包括物理學、化學、材料科學、生物學等多箇領域，它不僅改變了人們對物質的研究範式，還對基礎科學和工程技術產生了深遠的影響。