少子壽命

少子壽命是半導體材料和器件的重要參數，它直接反映了材料的質量和器件特性。在半導體物理中，少子是指占少數的載流子，例如在N型半導體中，空穴是少子，而在P型半導體中，電子是少子。少子壽命指的是少子的平均生存時間，即從少子產生到濃度減少到原值的1/e所經歷的時間。例如，對於p型矽片，當一定波長的光照射矽片後，矽片內就會出現電子-空穴對的分離，作為少數載流子的電子由於數量較少，在擴散過程中就會逐漸被複合掉，從產生到複合的時間即為少子壽命，一般單位為us(微秒)。