材料表徵是一個涉及材料科學的關鍵概念，它指的是通過一系列物理、化學等測試方法，來揭示和確定材料的結構特徵。這些方法包括但不限於：
顯微技術：如掃描電子顯微術（SEM）和透射電子顯微術（TEM），它們能夠觀察材料的形貌和原子排列結構，甚至達到納米甚至原子尺度。
光譜和質譜技術：這些技術用於分析材料的化學組成和分子結構，提供關於元素組成、成鍵情況的信息。
衍射法：以X射線衍射為主，用於測定材料的晶體結構，包括德拜粉末相分析、高溫、常溫、低溫衍射儀等。
譜學技術：結合成像和衍射技術，用於研究材料的形貌、晶體結構、化學成分和價態，以及微觀結構。
通過這些技術，材料表徵能夠提供關於材料的豐富信息，包括但不限於：
形貌：材料的外觀和表面特徵。
成分：材料中元素的種類和比例。
結構：材料的內部組織結構和原子排列狀況。
性能：材料的基本特性和回響關係，如磁滯回線中的磁矯頑力和屈服強度等。
材料表徵是材料科學研究中的一個基本過程，它對於理解材料的性能、最佳化材料設計和開發新材料至關重要。