SEM分析有兩種不同的含義，一種是指結構方程模型（Structural Equation Modeling），另一種是指掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope）。
結構方程模型（SEM）：
定義：SEM是一種統計分析方法，用於檢驗和估計因果關係模型中潛在變數的參數。
目的：它可以替代多重回歸、通徑分析、因子分析、協方差分析等方法，清晰分析單項指標對總體的作用和單項指標間的相互關係。
套用領域：SEM在近三十年內大量套用於社會科學及行為科學的領域裡，並在近幾年開始逐漸套用於市場研究中。
掃描電子顯微鏡（SEM）：
定義：SEM是一種可以提供表面微觀形貌、成分分析以及結構的高解析度電鏡。
工作原理：電子束和樣品相互作用產生二次電子、能譜特徵X射線、背散射電子、螢光信號以及背散射衍射信號等多種電子信號，通過相應檢測器檢測到對應信號，就可以獲得樣品的形貌、成分分析以及結構等信息。
套用領域：掃描電鏡在材料學、物理學、化學、生物學、考古學、地礦學以及微電子工業等領域有廣泛的套用。
綜上所述，SEM分析既可以指一種強大的統計分析技術，也可以指一種高解析度的微觀形貌分析工具。這兩種解釋在不同的學科和套用場景中都有其重要的地位。