UCL和LCL分別代表上控制限（Upper Control Limit）和下控制限（Lower Control Limit）。它們是統計學中控製圖的概念，用於監控過程是否處於統計控制狀態。UCL和LCL是根據實際測量數據計算出來的，通常用於質量控制和過程改進。
UCL（上控制限）：表示控製圖上的一個界限，用於監控過程的變化。如果過程數據超過這個界限，可能表明過程不在控制之中。
LCL（下控制限）：同樣表示控製圖上的一個界限，用於監控過程的變化。如果過程數據低於這個界限，也可能表明過程不在控制之中。
這兩個界限的計算通常基於過程的平均值（μ）和標準差（σ），例如，UCL=μ+3σ，LCL=μ-3σ，這裡的3σ是基於假設檢驗中的3σ原則。這些界限幫助識別過程中的異常變化，從而可以及時採取措施進行糾正或改進。