xrf原理

X射線螢光（XRF）分析的原理基於X射線與物質的相互作用，具體過程如下：

高能X射線照射到物質表面時，能夠激發原子內部電子從低能級躍遷到高能級。

當這些電子從高能級躍遷回低能級時，原子會釋放出次級X射線（即螢光X射線），這個過程稱為X射線螢光。

不同元素的原子在躍遷時釋放的螢光X射線具有特定的能量特徵，這些特徵能量與元素種類和含量相關，因此可以用來確定樣品中的元素種類及其含量。

XRF技術廣泛套用於材料科學、地質學、環境監測等領域，實現快速、準確的元素種類和含量分析。