元器件失效的原因可以分 為 內部原因和外部原因 兩大 類。具 體如下：
內部原因。材料老化，元器件的材料因 時 間或 質量原因老化， 導致性能下降； 結 構破 損，外部 衝擊、振 動或 溫度 變化 導致元器件 內部 結 構 損 壞；金 屬疲 勞，金 屬材料在 長期使用中因 反覆 應力 應 變而疲 勞； 壽命耗 盡，元器件超 過使用 壽命，出 現如 電容器漏 電、 電阻器阻值漂移等； 溫度失控， 過高 溫度 損害元器件，如 矽 晶片腐 蝕、焊 點 開裂； 結 構缺陷， 製造 過程中的缺陷如焊 點接 觸不良、 電晶體 極性 錯 誤；材料污染， 製造和封 裝 過程中的 雜 質、水分、油污等污染；充 電透明度降低，如 電解 電容器中的 電解液透明度降低； 發光元件老化，如 發光 二極體亮度降低或失效；拓 撲 結 構失效， 電感器、 變 壓器等元件的磁芯在 過渡 過程中受外力 衝擊 導致失效。
外部原因。瞬 態 過 電 壓，如雷 擊等突然的 過 電 壓事件 對元器件造成 損害； 靜 電放 電， 靜 電累 積 後的瞬 間高 電 壓放 電 導致元器件 擊穿； 環境腐 蝕， 長期 處於 惡劣 環境中的元器件性能下降； 衝擊振 動， 運 輸、安 裝和使用 過程中的 機械 衝擊和振 動； 電磁 干擾，外部 電磁 場 干擾 導致元器件性能下降； 負 載 變化， 電流和 電 壓 異常 變化超 過元器件 額定 範圍 導致失效。
例如， 電解 電容的失效通常是由高 溫 環境、 電 壓、 紋波 電流的影 響 導致的 電容量急 劇下降。 電阻 類元器件的失效 則主要表 現 為接 觸 損 壞、 開路、引 線 機械 損 傷等。