JTAG（Joint Test Action Group）是一種用於測試和調試電子設備的技術標準，主要套用於晶片級和板級電路的測試。它通過在器件內部定義一個測試訪問連線埠（Test Access Port，TAP），允許使用專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。JTAG接口通常包括四個主要線路：測試模式選擇（TMS）、測試時鐘（TCK）、測試數據輸入（TDI）和測試數據輸出（TDO），這些線路允許狀態機的操作，支持讀取和寫入暫存器、訪問記憶體、執行操作指令等功能。
JTAG的主要作用包括：
硬體調試和測試：在生產過程中，通過JTAG接口可以對晶片進行測試驗證，避免潛在的問題。
線上系統編程（ISP）：JTAG接口可用於對FLASH等器件進行編程，簡化開發流程。
FPGA/CPLD的編程和調試：通過JTAG接口，可以向FPGA或CPLD開發板導入程式和數據，實現對目標設備的配置和調試。
提供「後門」訪問：在嵌入式系統中，JTAG提供了一個方便的調試機制，允許程式設計師使用電路內模擬器等工具通過JTAG讀取集成在CPU上的調試模組。
JTAG的優點包括廣泛的硬體支持和豐富的調試功能，適用於複雜的嵌入式系統。然而，它也存在一些限制，如硬體實現的複雜性以及數據傳輸速度方面的限制。儘管如此，JTAG仍然是一種重要的電子設備測試和調試技術。