國際標準測試協定
JTAG（Joint Test Action Group）是一種國際標準測試協定，主要用於晶片內部測試。
這種協定定義了一組引腳及其相應的電氣和邏輯規範，用於在積體電路上執行測試、調試和編程等操作。JTAG技術是一種嵌入式調試技術，它在晶片內部封裝了專門的測試電路TAP（Test Access Port），通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。此外，JTAG還允許使用JTAG接口將多個器件串聯形成一個JTAG鏈，實現對各個器件的分別測試。這個標準被全球的電子企業廣泛採用，幾乎成為了JTAG的同義詞。在設計印刷電路版時，JTAG最主要用在測試積體電路的副區塊，同時也提供一個在嵌入式系統很有用的調試機制，提供一個在系統中方便的「後門」。當使用一些調試工具如電路內模擬器，JTAG用作信號傳輸的機制，使得程式設計師可以經由JTAG去讀取集成在CPU上的調試模組，進行軟體調試。