小角X射線散射(Small Angle X-ray Scattering, SAXS)是一種結構分析方法，用於研究納米尺度的電子密度不均勻性。它通過X射線照射樣品，在靠近原光束2°到5°的小角度範圍內發生散射現象。SAXS可以分析特大晶胞物質的結構，測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子(或固體物質中的超細空穴)的大小、形狀及分布。
SAXS在分析亞微米級固態或液態結構方面非常有效，適用於乾、濕態樣品，幾乎不需特殊樣品製備，能表徵透射電子顯微鏡(TEM)無法測量的樣品。此外，它對弱序、液晶性結構、取向和位置相關性有較靈敏的檢測，可以直接測量體相材料，有較好的粒子統計平均性。
SAXS研究對象大致可以分為散射體是明確定義的粒子，如大分子或者分散物質的細小顆粒，包括聚合物溶液、生物大分子、催化劑中孔洞等。SAXS可以給出明確定義的幾何參數，如粒子的尺寸和形狀等。散射體中存在亞微觀尺寸上的非均勻性，如懸浮液、乳液、膠狀溶液、纖維、合金、聚合物等。通過SAXS測定，可以得到微區尺寸和形狀、非均勻長度、潔體積分數和比表面積等統計參數。
SAXS是一種非破壞性的分析方法，具有許多優點，如適用樣品範圍寬，幾乎不需特殊樣品製備，能表徵TEM無法測量的樣品等。