X射線衍射（XRD）是一種重要的分析技術，廣泛套用於多個領域，包括但不限於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學以及材料生產等。它主要通過使用單色X射線照射樣品，根據X射線在晶體中的衍射現象來研究物質的物相和晶體結構。XRD的主要用途包括：
物相定性分析：通過對比樣品的XRD譜圖與標準物質的XRD譜圖，可以確定樣品中存在的物相。
物相定量分析：通過對樣品衍射強度數據的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。
結晶度分析：通過比較樣品中最強峰的強度和標準物質的強度，可以定性了解樣品的結晶度。
晶粒尺寸分析：XRD譜圖的信息可以用來分析晶粒尺寸。
晶體結構分析：包括定性和定量分析，以深入了解晶體的內部結構。
高溫原位分析：在特定條件下，XRD可用於研究材料在高溫下的結構和相變。
單晶分析：除了多晶和粉末樣品，XRD還可以用於單晶的結構分析。
巨觀及微觀應力測定：通過XRD可以測定材料中的巨觀和微觀應力。
XRD技術的優點包括無損檢測、無污染、快速、測量精度高，並且能夠提供關於晶體完整性的大量信息。這些特性使得XRD成為研究材料結構和性質的重要手段。