JTAG（Joint Test Action Group）是一種用於微處理器和其他嵌入式系統晶片的測試和調試技術。其核心原理是在晶片內部定義一個名為測試訪問連線埠（Test Access Port，簡稱TAP）的特殊接口。通過專用的JTAG測試工具，可以訪問並測試這些晶片的內部節點。
JTAG接口包括四個基本信號：
TCK（Test Clock）：時鐘信號，用於同步JTAG操作。
TDI（Test Data Input）：輸入信號，用於將測試數據傳送到晶片內部。
TDO（Test Data Output）：輸出信號，用於從晶片內部接收測試數據。
TMS（Test Mode Select）：狀態選擇輸入，用於控制JTAG接口的工作模式。
此外，還有一個可選的信號TRST（Test Reset），用於將晶片的內部狀態重置到默認值。
JTAG接口還支持邊界掃描技術，這是一種特殊的測試方法，可以同時測試多個晶片，通過將多個晶片的JTAG接口串聯起來形成一個JTAG鏈。這種方法使得測試和調試變得更加高效和靈活。
JTAG協定還允許對晶片進行編程，如線上編程（In-System Programming，簡稱ISP），這使得工程師能夠在晶片已經被焊接到電路板上時，對其進行編程或更新。
總的來說，JTAG是一種功能強大的測試和調試工具，廣泛套用於嵌入式系統設計的各個領域。