waxd原理

廣角X衍射法（WAXD）的測試原理是基於樣品中晶區和非晶區的電子密度差異。由於晶區的電子密度大於非晶區，因此在衍射圖中會表現出晶區衍射峰和非晶區的彌散峰。通過分峰處理，可以計算出晶區衍射峰的強度占所有峰總強度的比例，這個比例即為試樣的結晶度。有時，為了簡化計算，也可以直接使用各峰的面積來計算結晶度，而不需要進行校正。