XAS（X射線吸收光譜）是一種實驗技術，用於研究物質對X射線的吸收特性。它通過測量X射線透過樣品後的透射強度與入射X射線強度的關係，從而提供關於樣品結構、組成和電子狀態的信息。XAS可以用於固體（晶體或非晶）、液體和氣體等樣品的元素分析和化學態分析。
XAS圖譜主要由兩部分組成：
吸收係數平滑下降區：這部分對應於原子吸收，隨著入射光能量的增大，吸收係數降低。
吸收邊（突變區）：在光子能量達到一定值後，吸收係數呈階梯增長，這是由於原子內層電子躍遷引起的共振吸收。每一種元素都有其特徵的吸收邊系，因此XAS可以用於元素的定性分析。
XAFS（X射線吸收精細結構）是XAS的一個重要組成部分，它描述了吸收邊附近吸收係數的振盪現象。這種振盪來源於X射線激發的光電子被周圍配位原子散射，導致X射線吸收強度隨能量發生振盪。XAFS根據作用機理和峰形狀的不同，通常被劃分為兩個區域：
X射線吸收近邊結構（XANES）：對應於低能光電子在配位原子做多次散射後再回到吸收原子與出射波發生乾涉形成的強振盪。
擴展X射線吸收精細結構（EXAFS）：對應於高能光子被吸收原子周圍的配位原子做單散射回到吸收原子與出射波乾涉形成的振幅不大、似正弦波動的結構。
通過XAFS的分析，可以獲得樣品中原子間的化學鍵信息、配位環境以及電子密度分布等詳細信息。