X射線熒光光譜儀
XRF分析儀，即X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer），是一種用於分析物質成分的儀器。以下是相關介紹：
XRF分析儀的工作原理是基於物質對入射X射線的吸收和熒光發射特性。當高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時，可以激發出次級X射線，這些次級X射線具有特定的能量和波長，它們代表樣品中元素的特徵。
XRF分析儀通過測量這些特徵X射線的強度來確定樣品中包含的元素種類和含量，這種方法是非破壞性的，可以快速且準確地分析大量樣品。
XRF分析儀在工業生產、科學研究、環境監測和材料科學等領域有着廣泛的應用，例如，在金屬、玻璃、陶瓷和建材的調查和研究，地球化學、法醫學、考古學和藝術品分析等領域發揮着重要作用。
以上是XRF分析儀的相關介紹，希望對您有所幫助。