表徵方法是一系列用於分析和理解材料、物質或現象的技術和手段。根據不同的分類標準，這些方法可以分爲多種類型。以下是基於分析目的和原理的分類：
體相元素成分分析。用於分析樣品中元素的組成及其雜質成分。常用的方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方法。
表面成分分析。專門用於分析樣品表面的元素組成、化學態以及這些成分在表面的分佈。這包括掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM)等。
物理性能分析。用於測量材料的物理性能，如氮氣吸脫附、熱重分析(TGA)、熱電法等。
微觀形貌分析。通過掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM)等手段，觀察材料的幾何形貌、顆粒度及其分佈。
物相結構分析。利用X射線衍射分析、激光拉曼分析、傅里葉紅外分析等方法，確定材料的晶體結構或分子結構。
成分分析。包括核磁共振(NMR)和質譜法，用於研究材料的分子結構和化學環境。
磁學和聲學方法。如霍爾效應測量、磁疇觀察、超聲波測厚儀等，用於測量材料的磁學和聲學性質。
這些方法根據其應用和目的的不同，提供了從微觀到宏觀、從成分到物理性能的全面信息，共同構成了材料科學和化學中不可或缺的分析工具箱。