等厚乾涉

等厚乾涉是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的乾涉條紋。薄膜厚度相同的地方形成同條幹涉條紋，故稱等厚乾涉。等厚乾涉的原理是當一束平行光入射到厚度不均勻的透明介質薄膜上時，在薄膜的表面會產生乾涉現象。從上表面反射的光線和從下表面反射並透射出上表面的光線在某點相遇，由於有恆定的光程差，因而將產生乾涉。若平行光束垂直入射到薄膜面，則反射光線的光程差與薄膜厚度和折射率有關。等厚乾涉的套用包括牛頓環和楔形平板乾涉等。

等厚乾涉條紋是定域在薄膜附近，與膜的等厚度線一致的乾涉條紋。這種乾涉條紋可以用作光學檢驗，例如測量楔形平板的微小角度、測定光學表面的曲率、檢查光學表面的平整度以及測量長度的微小變化等。

此外，等厚乾涉與等傾乾涉有所不同，主要區別在於性質、乾涉級數和原理方面。例如，等傾乾涉是薄膜乾涉的一種，此時薄膜是均勻的，凡入射角相同的就形成同一條紋，故形成的乾涉花樣是一些明暗相間的同心圓環；而等厚乾涉則是由平行光入射到厚度變化均勻的薄膜上、下表面而形成的乾涉條紋，同一乾涉條紋上的各點都具有相同的薄膜厚度。