粒度分析是一種用於測定顆粒材料大小和分布的方法，常用於地質學、材料科學和工業領域。其分析方法有很多種，每種方法都有其適用範圍和優缺點。常見的粒度分析方法包括：
篩分法。通過讓顆粒通過不同尺寸的篩孔來測定粒度。適用於大顆粒和粗粒材料的測定。
沉降法。基於顆粒在液體中的沉降速度來測定粒度。不同粒徑的顆粒沉降速度不同，從而可以測定粒度分布。
顯微鏡法。直接觀察顆粒的形態和大小。適用於小顆粒和需要高精度測量的場合。
雷射法。利用雷射散射技術測量顆粒大小和分布。適用於寬粒度範圍的測量。
電阻法（庫爾特法）。通過測量通過小微孔的顆粒引起的電阻變化來測定粒度分布。
重力沉降法。通過測量顆粒在重力作用下的沉降速度來測定粒度。
離心沉降法。利用離心力使顆粒沉降，根據沉降速度測定粒度。
透氣法。通過測量氣體通過顆粒堆積時的流動阻力來測定粒度。
X射線法。利用X射線透過樣品時的散射或吸收來測定粒度。
表面積法。通過測量樣品的比表面積來間接計算粒度。
每種方法都有其特定的套用場景和優缺點，因此選擇合適的粒度分析方法取決於樣品的性質、所需測量的精度以及可用資源的考慮。