逸出功是金屬電子逸出金屬表面所需的最小能量，其常用單位是電子伏特（eV）。逸出功的大小與金屬的性質和表面狀態有關，可以通過不同的方法測量或計算。以下是逸出功的幾種求法：
光電效應法：
愛因斯坦光電效應方程：\(W_0 = h
u - E_k\)，其中 \(W_0\) 是逸出功，\(h
u\) 是入射光子的能量，\(E_k\) 是光電子的最大初動能。
實驗中，通過測量不同光強下的電流和電壓，可以確定逸出功。
熱電子發射法：
根據費米–狄拉克能量分佈公式，可以導出熱電子發射的裏查遜—杜什曼公式，通過實驗測量的電流強度和溫度，可以計算出逸出功。
直接測量法：
將被測材料做成二級管的陰極，通過測量陰極溫度 \(T\)、陽極電壓 \(U_a\) 和發射電流 \(I_a\)，然後通過數據處理得到零場電流 \(I\)，即可求出逸出功 \(e\Phi\) 或逸出電位 \(\Phi\)。
綜上所述，逸出功的求法包括光電效應法、熱電子發射法和直接測量法。每種方法都有其特定的應用場景和實驗條件。