saed分析

SAED（選擇性退散電子圖像衍射）是一種用於研究物質晶體結構的化學表徵技術。它通過選擇性地探測單個晶體單元內的電子密度分布來確定晶體的結構特徵。SAED通過分析物質對X射線的散射來生成一系列圖像，這些圖像有助於識別晶體結構的不同特徵，如晶粒大小、晶體形狀和晶體內部的界面。