XRD定量分析的原理基於某物相的衍射強度與其在樣品中的含量成正比，與吸收成反比的關係。具體來說，不同的晶體有不同的衍射花樣，衍射線的晶面間距反映晶胞的大小和形狀，而衍射線的相對強度反映質點的種類、數量及所處的位置。定量分析時，衍射線的相對強度與物相含量之間存在關係，衍射線的強度會隨著相含量的增加而提高，從而實現定量分析。
XRD（X射線衍射）是一種利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射後X射線信號特徵的技術，經過處理得到衍射圖譜。這種方法通常用於測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，具有檢測快速、操作簡單、數據處理方便等優點。在定量分析中，通過對衍射圖譜的分析，可以獲得材料的成分、內部原子或分子的結構或形態等信息。