XRD（X-ray diffraction）圖譜是用於分析晶體結構的重要工具，主要通過X射線在晶體中的衍射現象來工作。XRD圖譜通常包含衍射角度（2θ）和衍射強度兩個維度，特定的衍射峯位對應於晶體中特定晶面的反射。
在解讀XRD圖譜時，主要關注以下幾個關鍵參數：
衍射峯角度。這是圖譜中衍射峯出現的位置，反映了晶體內部原子間距的信息。
衍射強度。表示衍射峯的高度，與晶體中原子排列的規律性有關。
半高寬。衍射峯的寬度，與晶粒大小相關，可以通過它來估算晶粒尺寸。
XRD圖譜的分析主要包括定性分析和定量分析兩個方面。定性分析是通過將未知樣品的XRD圖譜與標準XRD圖譜（如JCPDS數據庫中的圖譜）進行對比，來確定樣品中存在的物相。這通常從最強的三個峯（三強峯）開始檢索。定量分析則是通過分析衍射強度數據，來確定樣品中各物相的含量。
在解讀XRD圖譜時，還需要考慮峯形、峯位和信噪比等因素。例如，峯形尖銳表明結晶度好，而峯位的變化可以反映晶胞參數的變化。信噪比（信號與背景噪聲的比例）越高，表明XRD圖譜的質量越好。
此外，還可以使用專業的軟件（如Jade或MDI Jade）來輔助分析XRD圖譜，這些軟件可以幫助進行更精確的物相檢索和定量分析。