密勒指數（Miller indices）是一種在數學和固體物理學中用來描述晶體結構中特定晶面族的坐標系統。
密勒指數的定義基於晶體學中的一個基本概念，即通過選擇晶格中的四個點（原點O和三個基矢量A、B、C）來定義一個坐標系。在這個坐標系中，任何晶面都可以通過其在三個軸上的截距來描述。計算密勒指數的過程通常包括取這些截距的倒數，然後將這些倒數約簡為最簡分數，以獲得密勒指數。例如，一個晶面用密勒指數表示為(623)表示該晶面在三個坐標軸上的截距為6、2和3。
密勒指數不僅用於描述晶面，也用於表示晶體方向。例如，方向指的是垂直於(100)晶面的方向。密勒指數在晶體學研究中非常有用，特別是在需要精確描述晶體結構、表面科學、晶體生長和材料科學中的套用中。