探針卡(Probe Card)是一種用於晶圓測試的測試接口，主要作用是在芯片封裝前對芯片的電學性能進行初步測試，以篩選出不良芯片，確保只有合格的芯片纔會進入後續的封裝工程。
探針卡在晶圓測試中充當被測芯片和電子測試系統之間的媒介，通過其上的探針與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸，引出芯片的信號，並配合周邊的測試儀器與軟件控制實現自動化測量。探針卡的設計、材質和結構類型（如刀片針卡、懸臂針卡、垂直針卡、薄膜式針卡和MEMS針卡）均根據不同的測試需求和環境而有所不同，它們通常由PCB、探針、電子元件等功能部件組成，PCB是承載這些組件的載體，負責實現針尖與測試機之間的信號傳遞。