手機跌落測試通常包括以下幾個步驟：
測試準備。將手機處於開機狀態，並插上SIM卡和裝配電池。
確定測試條件。根據不同的國際規範和公司質量部門的建議，選擇合適的測試高度和環境。例如，對於手持產品（如手機），IEC建議2kg以下的手機應滿足100cm的墜落高度，不得損壞；MIL建議的墜落高度爲122cm；Intel建議的墜落高度爲150cm。
進行跌落測試。對於直握手機，進行6個面的自由跌落實驗，每個面的跌落次數爲1次；對於翻蓋手機，進行8個面的自由跌落實驗，一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋；對於滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
檢查跌落後結果。跌落結束後，對手機的外觀、結構和功能進行檢查。
記錄測試數據。在測試過程中，記錄下任何異常情況和結果。
以上步驟可以幫助確保手機在跌落時能夠保持良好的性能和結構完整性。