陶瓷成分分析的方法有多種，每種都有其特定的套用和優點。常見的分析方法包括：
X射線螢光分析。此方法利用X射線照射樣品產生的螢光X射線來分析元素含量。它適用於分析各種元素，包括常規、特殊和稀有金屬元素。
紅外光譜分析。這是一種非破壞性方法，通過檢測材料與紅外輻射互動作用所致的振動來確定化學鍵和官能團，從而分析元素含量。
原子吸收光譜分析。此方法將樣品作為氣態原子噴射進火焰內，然後對所產生的熱輻射進行分析，以測定元素含量。
電鏡分析。通過高精度電鏡觀察樣品內部或表面的微觀結構來確定陶瓷中各種元素的相對含量和分布情況。適用於非晶態、多相和複雜結構的陶瓷。
滴定法濕法化學分析。滴定試劑與被測組分在適當的酸鹼pH值下反應，通過指示劑在反應達到終點時顏色突變所使用的滴定試劑的多少來計算被測物的含量。
X射線衍射法。這是一種快速、準確和非破壞性的分析方法，可以精確測定陶瓷中各組成的晶相類型及其含量。
掃描電子顯微鏡(SEM)。通過掃描電子束照射物質表面，觀察樣品表面形態和微觀結構，從而分析樣品的成分和組成結構。
差熱分析法(DTA)。通過檢測陶瓷樣品在加熱過程中的熱變化來分析其成分和組成。
此外，還有外觀目測法、染色法和偏光顯微鏡法等更傳統的方法，這些方法主要依賴於觀察和物理特性來判斷陶瓷的成分。