高分子表徵方法多樣，主要用於研究和了解高分子材料的結構和性能。以下是一些常見的高分子表徵方法：
玻璃化轉變溫度(Tg)。通過測定高分子材料的玻璃化轉變溫度，可以判斷材料相容性的高低。不相容的高分子材料會有多個Tg，這些Tg越靠近，說明相容性越高。
電子顯微鏡。使用掃描電子顯微鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)觀察高分子材料微觀結構。SEM主要用於觀察材料的形貌、元素組成和分布等，而AFM適用於觀察聚合物單分子鏈的力學性能。
力學性能測試。包括拉伸、壓縮、彎曲和剪下性能測試，以及衝擊性能測試，這些測試可以幫助了解材料的強度、剛度、延伸率等力學性質。
熱分析技術。通過熱重分析(TGA)和差示掃描量熱法(DSC)等技術，分析高分子材料在加熱或冷卻過程中的熱行為，如分解溫度、熔點等。
光譜技術。紅外光譜(IR)和拉曼光譜用於分析高分子材料的化學結構和鍵合情況；紫外-可見光譜則用於研究高分子材料的電子能級結構。
偏光顯微鏡和金相顯微鏡。偏光顯微鏡用於觀察高分子液晶材料的織構，而金相顯微鏡適用於觀察高分子聚合物表面的亞微觀結構。
X射線衍射。用於分析高分子聚合物的晶態和液晶態組織結構。
這些方法可以單獨使用，也可以組合使用，以全面表徵高分子材料的各種性能。