SNOM（近場掃描光學顯微鏡）的基本原理涉及使用極細的探針（通常為金屬塗層AFM針）來聚焦雷射光束，在探針尖端形成一個納米級的焦點。這個焦點能夠探測樣品表面的近場光學性質，即比光波長更小的空間範圍內的光場。通過掃描樣品表面並記錄散射光，可以獲得樣品的高解析度圖像，揭示其局部光學特性。
SNOM的關鍵技術包括：
探針-樣品距離調節：通過檢測近場探針末端與樣品之間的剪下力來實現精確的距離控制。這種方法允許同時進行剪下力和近場成像，適用於透明和不透明樣品，以及發光模式的額外特徵獲取。
石英音叉的使用：石英音叉的回響與表面相互作用，其共振頻率的變化用於檢測纖維振盪幅度，從而獲取表面信息。這種方法通過壓電效應和反饋系統實現精確控制。
納米焦點形成：雷射聚焦在金屬塗層AFM針尖上，形成比激發波長小幾千倍的納米焦點，用於局部探測樣品。通過記錄探針掃描過程中的散射光，可以獲得近場光學成像。
綜上所述，SNOM通過其獨特的探針技術和光學配置，能夠在納米尺度上探測和成像樣品的局部光學性質，提供傳統光學顯微鏡無法達到的高解析度圖像。