XRD（X-ray diffraction）是一種利用X射線在晶體中的衍射現象來分析晶體結構的技術。XRD圖譜通常包含二維圖譜，其中橫座標爲角度，縱座標爲衍射強度。在特定的角度下，會出現特定的衍射峯位，這些峯位對應於晶體的特定晶面。在解讀XRD圖譜時，需要注意以下幾個關鍵信息：
衍射峯角度：這是確定晶體結構的關鍵信息之一。
衍射強度：表示衍射峯的強度，有助於判斷晶體的相對含量。
半高寬：反映晶體的大小和結晶度。
爲了分析XRD圖譜，可以將測試獲得的衍射數據與XRD標準圖庫（如JCPDS）中的數據進行對比。通常從最強的三個峯（“三強峯”）開始檢索，以確定樣品中存在的物相。此外，還可以使用專業軟件如MDI Jade等進行計算機輔助檢索。
XRD的主要應用包括：
定性分析：通過與標準PDF卡片對比，確定樣品中存在的物質。
結晶度分析：通過觀察峯的尖銳程度來判斷結晶度。
信噪比評估：高信噪比意味着XRD圖譜質量好，結果更可靠。
XRD不僅可以提供材料的體相結構信息，還可以用於定量分析，如確定樣品的平均晶粒尺寸等。這些信息對於研究材料的物理和化學性質至關重要。
在實際操作中，可以使用專業軟件如Jade來處理和分析XRD數據。這些軟件可以幫助用戶更有效地解讀和利用XRD圖譜信息。