cafm原理

CAFM原理

CAFM（Conducting Atomic Force Microscope，導電原子力顯微鏡）結合了原子力顯微鏡（AFM）的原理和導電分析技術。它通過在AFM的基礎上增加一個導電探針，利用量子力學中的位壓（Lorentz力）作用，使探針與物體表面精確接觸。這樣，CAFM能夠採集電學參數，從而深入研究材料的表面結構，包括物理、化學、磁學等特性。這種技術是一種非常重要的量子力學手段，用於研究材料的帶電本徵表面結構。