xrd角度

XRD（X射線衍射）技術根據測試角度的不同，可以分為廣角XRD和小角XRD。這兩種技術的測試角度範圍如下：

廣角XRD。該技術的測試角度通常在5°至120°之間，適用於分析晶體的晶體學參數、晶胞參數、晶面取向和晶體結構等信息，在材料科學、化學、物理學等領域有著廣泛的套用。

小角XRD。該技術測試的角度範圍一般在0.5°至50°之間，主要用於研究材料的微觀結構、納米結構、孔隙結構、相分離和表面擴散等現象，這種技術對於理解材料的微觀結構和性能具有重要意義。