確定物質的晶體結構和形態
XRD（X射線衍射）是一種重要的分析技術，主要用於確定物質的晶體結構和形態。它通過使用單色X射線照射樣品，觀察X射線與樣品中原子相互作用產生的衍射現象來工作。通過對衍射圖譜的分析，可以獲得樣品的晶體結構、物相組成、結晶度、晶粒大小、微觀應力等重要信息。
XRD的套用非常廣泛，包括但不限於：
物相鑑定：區分樣品中的不同結晶成分和比例。
結晶度分析：確定材料的結晶程度。
晶格參數測定：為新材料開發提供性能驗證指標。
微觀應力測定：分析材料在使用過程中的失效問題。
平均粒徑測定：適用於納米材料的粒度分析。
內部原子分布狀況分析：解析原子在晶體中的排列規律。
定性和定量分析：通過與標準譜圖對比進行物相組成的定性分析，或通過分析衍射強度數據進行定量分析。
此外，XRD還廣泛套用於生物醫藥、冶金、刑偵、考古、水泥、半導體和石油化工等多個領域。例如，在生物醫藥行業中，XRD可用於判斷藥品的異同，幫助打擊假藥；在冶金行業，它用於鋼鐵中的殘餘奧氏體含量測定和應力測定；在刑偵和考古領域，XRD用於無損檢測和物相鑑定；在水泥行業，雖然套用較少，但需求正在增加；在半導體行業，XRD是質量控制的關鍵工具；在石油化工行業，它用於石油勘探和催化劑研究。