瓦氏位投照方法是一種用於鼻竇X線檢查的拍攝角度,主要用於檢查篩竇病變、上頜竇病變和額竇病變。具體步驟如下:
患者俯臥於攝影台上,肘部彎曲,兩手放於胸前。
踝部下方墊以沙袋,將足部稍抬高。
頭部的正中面對暗盒中線,並與其垂直。
頦部緊靠暗盒下緣,頭部稍向後仰。
將鼻尖離開暗盒約0.5cm~1.5cm,使聽眥線與暗盒約成37°角。
暗盒上緣超出前額,下緣包括頦部,將鼻尖與上唇間的中點放於暗盒中心。
中心線對準鼻尖與上唇間的中點,與暗盒垂直。
瓦氏位投照方法是一種用於鼻竇X線檢查的拍攝角度,主要用於檢查篩竇病變、上頜竇病變和額竇病變。具體步驟如下:
患者俯臥於攝影台上,肘部彎曲,兩手放於胸前。
踝部下方墊以沙袋,將足部稍抬高。
頭部的正中面對暗盒中線,並與其垂直。
頦部緊靠暗盒下緣,頭部稍向後仰。
將鼻尖離開暗盒約0.5cm~1.5cm,使聽眥線與暗盒約成37°角。
暗盒上緣超出前額,下緣包括頦部,將鼻尖與上唇間的中點放於暗盒中心。
中心線對準鼻尖與上唇間的中點,與暗盒垂直。