透射電子顯微分析(TEM)是一種高解析度、高放大倍數的顯微鏡技術，主要用於觀察和分析材料的形貌、組織結構以及微觀物理化學特徵。
TEM利用波長極短的高能電子束穿透薄樣品，從而獲取樣品內部的詳細信息。在樣品內部，電子與原子相互作用，使得原子級別的結構信息得以顯現。TEM的主要優點包括其高解析度，能夠觀察組織和細胞內部的超微結構，以及其強大的微區成分分析能力。
TEM的主要套用包括觀察金屬薄膜和其他晶態物質薄膜中的結構，研究材料中的晶體缺陷，以及進行微區成分分析等。此外，TEM還具有多種成像模式和實驗技術，如高解析度電子顯微鏡(HRTEM)、選區電子衍射(SAED)、能量色散譜(EDS)等，使其成為材料科學研究中的關鍵工具。